ÌãíÚ ÇáÈÍæË ÇáãÏÑÓíÉ ( ÈÍæË ãÏÑÓíÉ ÌÇåÒÉ ) ÃßÈÑ ãßÊÈÉ ááÈÍæË ÇáãÏÑÓíÉ ÇáÌÇåÒÉ
ÈÍË Úáãí Úä Úáã ÇáÐßÇÁ ÇáÕäÇÚí
ãä åäÜÜÇ
ÈÍË ãÚãÞ Úä ÙÇåÑÉ ÇáÚäÝ ÖÏ ÇáãÑÃÉ
ãä åäÜÜÇ
Çáíßã ÇáãßÊÈÉ ÇáÚÑÈíÉ ÇáÑÞãíÉ ááÑÓÇÆá æÇáÈÍæË æÇáãÞÇáÇÊ ÇáÚáãíÉ
ãä åäÜÜÇá
ÈÍË Úä ãÎÊÑÚ ÇáÊáÝÇÒ
ãä åäÜÜÇ
ÈÍË ÌÇåÒ Úä ÇáÊÓæäÇãí
ãä åäÜÜÇ
ÈÍË ÔÇãá Úä ãíßÑæÓßæÈ ÇáÞæÉ ÇáÐÑíÉ - Atomic force microscopy
ãä åäÜÜÇ
ÈÍË Úä ÇÚáÇã Ýí ÊÇÑíÎ ÊæäÓ
ãä åäÜÜÇ
íÊÈÚ Çä ÔÇÁ Çááå


ÑÏ ãÚ ÇÞÊÈÇÓ
ÇáÊÝÌíÑ Çáäææí - ÅäÊÇÌ ÇáØÇÞÉ ÇáäææíÉ - ÇáØÇÞÉ ÇáÐÑíÉ - ÍæÇÏË ÇáØÇÞÉ ÇáäææíÉ
